標準號：IEC 60068-2-1：2007

發(fā)布單位或類別：國際組織-國際電工委員會（IX-IEC）

發(fā)布日期：2007-03-13

CCS分類：L60/69 電子元器件與信息技術(shù) - 計算機

ICS分類：19.040 試驗 - 環(huán)境試驗

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

IEC 60068-2-1:2007適用于非散熱和散熱試樣的冷試驗。對于非散熱標本，測試Ab和Ad并不偏離早期的問題。測試Ae主要用于需要在整個測試中運行的測試設(shè)備，包括調(diào)節(jié)期。冷試驗的目的是限制組件，設(shè)備或其他物品在低溫下使用，運輸或儲存的能力的確定。本標準的冷試驗不能使樣品在待評估的溫度變化中承受或操作的能力。在這種情況下，有必要使用IEC 60068-2-14。冷試驗細分如下: - 非散熱試樣的冷試驗: *溫度逐漸變化，Ab; - 散熱試樣的冷試驗: *逐漸變化的溫度，Ad，*隨著溫度的逐漸變化，試樣動力遍及，Ae。本標準中給出的程序通常用于在執(zhí)行測試過程中達到溫度穩(wěn)定性的樣品。溫度室根據(jù)IEC 60068-3-5和IEC 60068-3-7的規(guī)定進行構(gòu)造和驗證。

產(chǎn)品類別：電器